Texas Instruments - SN74LVTH18502APMG4

KEY Part #: K1320812

SN74LVTH18502APMG4 価格設定(USD) [13275個在庫]

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品番:
SN74LVTH18502APMG4
メーカー:
Texas Instruments
詳細な説明:
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP.
メーカーの標準リードタイム:
在庫あり
賞味期限:
一年
チップから:
香港
RoHS:
支払方法:
発送方法:
家族のカテゴリー:
KEY Components Co.、LTDは、PMIC-フル、ハーフブリッジドライバー, 組み込み-マイクロコントローラー付きFPGA(フィールドプログラマブルゲートアレイ), インターフェイス-ダイレクトデジタル合成(DDS), PMIC-パワーオーバーイーサネット(PoE)コントローラー, 組み込み-DSP(デジタルシグナルプロセッサ), インターフェース-フィルター-アクティブ, PMIC-現在の規制/管理 and ロジック-コンパレータを含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
競争上の優位性:
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GB-T-27922
ISO-9001-2015
ISO-13485
ISO-14001
ISO-28000-2007
ISO-45001-2018

SN74LVTH18502APMG4 製品の属性

品番 : SN74LVTH18502APMG4
メーカー : Texas Instruments
説明 : IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
シリーズ : 74LVTH
部品ステータス : Active
論理タイプ : ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
供給電圧 : 2.7V ~ 3.6V
ビット数 : 18
動作温度 : -40°C ~ 85°C
取付タイプ : Surface Mount
パッケージ/ケース : 64-LQFP
サプライヤーデバイスパッケージ : 64-LQFP (10x10)