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- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
- RoHS:
- 支払方法:
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- KEY Components Co.、LTDは、PMIC-AC DCコンバーター、オフラインスイッチャー, 組み込み-マイクロコントローラー, PMIC-ディスプレイドライバー, データ収集-デジタルポテンショメータ, リニア-アナログ乗算器、除算器, ロジック-ユニバーサルバス機能, データ収集-タッチスクリーンコントローラー and ロジック-フリップフロップを含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
- 競争上の優位性:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8240ADWRE4 electronic components. SN74BCT8240ADWRE4 can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8240ADWRE4, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8240ADWRE4 製品の属性
品番 :
SN74BCT8240ADWRE4
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
シリーズ :
74BCT
部品ステータス :
Obsolete
論理タイプ :
Scan Test Device with Inverting Buffers
供給電圧 :
4.5V ~ 5.5V
ビット数 :
8
動作温度 :
0°C ~ 70°C
取付タイプ :
Surface Mount
パッケージ/ケース :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ :
24-SOIC
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