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- 品番:
- SN74BCT8245ANT
- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
- RoHS:
- 支払方法:
-
- 発送方法:
- 家族のカテゴリー:
- KEY Components Co.、LTDは、組み込み-システムオンチップ（SoC）, PMIC-フル、ハーフブリッジドライバー, インターフェース-シリアライザー、デシリアライザー, リニア-ビデオ処理, 組み込み-FPGA（フィールドプログラマブルゲートアレイ）, クロック/タイミング-クロックジェネレーター、PLL、周波数シンセサイザー, PMIC-モータードライバー、コントローラー and PMIC-スーパーバイザーを含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
- 競争上の優位性:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8245ANT electronic components. SN74BCT8245ANT can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8245ANT, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8245ANT 製品の属性
品番 :
SN74BCT8245ANT
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP
シリーズ :
74BCT
部品ステータス :
Obsolete
論理タイプ :
Scan Test Device with Bus Transceivers
供給電圧 :
4.5V ~ 5.5V
ビット数 :
8
動作温度 :
0°C ~ 70°C
取付タイプ :
Through Hole
パッケージ/ケース :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
サプライヤーデバイスパッケージ :
24-PDIP
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