[6732個在庫]
- 品番:
- SN74ABT8652DWR
- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
- RoHS:
- 支払方法:
-
- 発送方法:
- 家族のカテゴリー:
- KEY Components Co.、LTDは、PMIC-ORコントローラ、理想ダイオード, 組み込み-CPLD（複雑なプログラマブルロジックデバイス）, ロジック-FIFOメモリ, ロジック-信号スイッチ、マルチプレクサ、デコーダ, ICチップ, インターフェース-音声録音と再生, ロジック-シフトレジスタ and ロジック-パリティジェネレーターとチェッカーを含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
- 競争上の優位性:
- We specialize in Texas Instruments SN74ABT8652DWR electronic components. SN74ABT8652DWR can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74ABT8652DWR, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74ABT8652DWR 製品の属性
品番 :
SN74ABT8652DWR
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC
シリーズ :
74ABT
部品ステータス :
Obsolete
論理タイプ :
Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
供給電圧 :
4.5V ~ 5.5V
ビット数 :
8
動作温度 :
-40°C ~ 85°C
取付タイプ :
Surface Mount
パッケージ/ケース :
28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ :
28-SOIC
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