[2009個在庫]
- 品番:
- SN74BCT8373ADWR
- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
- RoHS:
- 支払方法:
-
- 発送方法:
- 家族のカテゴリー:
- KEY Components Co.、LTDは、インターフェース-センサーと検出器のインターフェース, クロック/タイミング-ICバッテリー, ロジック-ゲートとインバーター, 組み込み-マイクロコントローラー、マイクロプロセッサー、FPGAモジュール, リニア-アンプ-特別な目的, クロック/タイミング-プログラマブルタイマーとオシレーター, ロジック-シフトレジスタ and PMIC-エネルギー計測を含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
- 競争上の優位性:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8373ADWR electronic components. SN74BCT8373ADWR can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8373ADWR, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8373ADWR 製品の属性
品番 :
SN74BCT8373ADWR
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
シリーズ :
74BCT
部品ステータス :
Obsolete
論理タイプ :
Scan Test Device with D-Type Latches
供給電圧 :
4.5V ~ 5.5V
ビット数 :
8
動作温度 :
0°C ~ 70°C
取付タイプ :
Surface Mount
パッケージ/ケース :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ :
24-SOIC
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