Texas Instruments - SN74ABT8245DWG4

KEY Part #: K1320874

SN74ABT8245DWG4 価格設定(USD) [18085個在庫]

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品番:
SN74ABT8245DWG4
メーカー:
Texas Instruments
詳細な説明:
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC.
メーカーの標準リードタイム:
在庫あり
賞味期限:
一年
チップから:
香港
RoHS:
支払方法:
発送方法:
家族のカテゴリー:
KEY Components Co.、LTDは、組み込み-PLD(プログラマブルロジックデバイス), 組み込み-マイクロコントローラー付きFPGA(フィールドプログラマブルゲートアレイ), クロック/タイミング-ICバッテリー, 組み込み-マイクロコントローラー、マイクロプロセッサー、FPGAモジュール, ICチップ, インターフェース-UART(Universal Asynchronous Receiver Tran, PMIC-電圧レギュレータ-リニア and PMIC-電圧レギュレータ-DC DCスイッチングコントローラーを含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
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GB-T-27922
ISO-9001-2015
ISO-13485
ISO-14001
ISO-28000-2007
ISO-45001-2018

SN74ABT8245DWG4 製品の属性

品番 : SN74ABT8245DWG4
メーカー : Texas Instruments
説明 : IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
シリーズ : 74ABT
部品ステータス : Active
論理タイプ : Scan Test Device with Bus Transceivers
供給電圧 : 4.5V ~ 5.5V
ビット数 : 8
動作温度 : -40°C ~ 85°C
取付タイプ : Surface Mount
パッケージ/ケース : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ : 24-SOIC

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