[7800個在庫]
- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
- RoHS:
- 支払方法:
-
- 発送方法:
- 家族のカテゴリー:
- KEY Components Co.、LTDは、リニア-アンプ-オーディオ, リニア-コンパレータ, インターフェース-フィルター-アクティブ, PMIC-パワーオーバーイーサネット（PoE）コントローラー, ロジック-フリップフロップ, PMIC-照明、バラストコントローラ, データ収集-D / Aコンバーター（DAC） and 組み込み-FPGA（フィールドプログラマブルゲートアレイ）を含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
- 競争上の優位性:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8374ADWRG4 electronic components. SN74BCT8374ADWRG4 can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8374ADWRG4, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8374ADWRG4 製品の属性
品番 :
SN74BCT8374ADWRG4
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC
シリーズ :
74BCT
部品ステータス :
Obsolete
論理タイプ :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
供給電圧 :
4.5V ~ 5.5V
ビット数 :
8
動作温度 :
0°C ~ 70°C
取付タイプ :
Surface Mount
パッケージ/ケース :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ :
24-SOIC
最新ニュース
あなたも興味があるかもしれません
ホットパーツ
- SSTUG32866EC/G,518
- SSTUB32868ET/S,518
- SSTUP32866EC/G,518
- SSTVF16859BS,151
- SSTV16857EV,118
- SSTUH32865ET,551
- PT7C6035ALC-2DE
- SSTVF16859BKLF
- SSTUF32864EHLF
- 74SSTV16859NLG
- IDT74SSTUBH32865ABKG
- IDT74SSTU32864ABFG
- SN74BCT8240ADWRG4
- CD40117BPWG4
- 74GTLP2033DGVRE4
- 74ABTH16460DGGRE4
- SY10E212JZ-TR
- SY10E212JZ
- SY100S314JZ-TR
- SY100EL16VSZG
- SN74SSTV16857DGVRG
- SN74ACT1284PW
- MC10H330FNG
- MC10EP16DR2
- MC100EP16FDR2G
- PI74SSTV16857AE
- SY89206VMI-TR
- SY10EP16VKI TR
- SY10EL16VFKC
- SY100EL16VDKI
- SY100EL16VAKC
- SY100E116JI
- 74ABT899CQC
- SY58602UMG-TR
- MC14007UBCP
- SN74GTLP2034DGVR
- 74HC283D,652
- SY10EP16VZG-TR
- SY100EL16VSKC
- 74F381