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- 品番:
- SN74BCT8244ANTG4
- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
- RoHS:
- 支払方法:
-
- 発送方法:
- 家族のカテゴリー:
- KEY Components Co.、LTDは、データ収集-D / Aコンバーター（DAC）, 組み込み-マイクロコントローラー, リニア-アンプ-特別な目的, PMIC-バッテリー管理, リニア-アナログ乗算器、除算器, ロジック-シフトレジスタ, 組み込み-FPGA（フィールドプログラマブルゲートアレイ） and リニア-アンプ-オーディオを含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
- 競争上の優位性:
- We specialize in Texas Instruments SN74BCT8244ANTG4 electronic components. SN74BCT8244ANTG4 can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8244ANTG4, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74BCT8244ANTG4 製品の属性
品番 :
SN74BCT8244ANTG4
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
シリーズ :
74BCT
部品ステータス :
Obsolete
論理タイプ :
Scan Test Device with Buffers
供給電圧 :
4.5V ~ 5.5V
ビット数 :
8
動作温度 :
0°C ~ 70°C
取付タイプ :
Through Hole
パッケージ/ケース :
24-DIP (0.300", 7.62mm)
サプライヤーデバイスパッケージ :
24-PDIP
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