Texas Instruments - SN74BCT8245ADWR

KEY Part #: K1320868

SN74BCT8245ADWR 価格設定(USD) [17758個在庫]

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品番:
SN74BCT8245ADWR
メーカー:
Texas Instruments
詳細な説明:
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC.
メーカーの標準リードタイム:
在庫あり
賞味期限:
一年
チップから:
香港
RoHS:
支払方法:
発送方法:
家族のカテゴリー:
KEY Components Co.、LTDは、組み込み-システムオンチップ(SoC), ロジック-パリティジェネレーターとチェッカー, 組み込み-マイクロコントローラー-アプリケーション固有, ロジック-バッファー、ドライバー、レシーバー、トランシーバー, PMIC-ディスプレイドライバー, インターフェース-センサー、静電容量式タッチ, 組み込み-CPLD(複雑なプログラマブルロジックデバイス) and インターフェース-信号バッファー、リピーター、スプリッターを含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
競争上の優位性:
We specialize in Texas Instruments SN74BCT8245ADWR electronic components. SN74BCT8245ADWR can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74BCT8245ADWR, Please submit a Request for Quotation here or send us an email:
GB-T-27922
ISO-9001-2015
ISO-13485
ISO-14001
ISO-28000-2007
ISO-45001-2018

SN74BCT8245ADWR 製品の属性

品番 : SN74BCT8245ADWR
メーカー : Texas Instruments
説明 : IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
シリーズ : 74BCT
部品ステータス : Active
論理タイプ : Scan Test Device with Bus Transceivers
供給電圧 : 4.5V ~ 5.5V
ビット数 : 8
動作温度 : 0°C ~ 70°C
取付タイプ : Surface Mount
パッケージ/ケース : 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ : 24-SOIC

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