8V182512IDGGREP 価格設定（USD） [9786個在庫]
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- 品番:
- 8V182512IDGGREP
- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
- RoHS:
- 支払方法:
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- 発送方法:
- 家族のカテゴリー:
- KEY Components Co.、LTDは、インターフェース-テレコム, クロック/タイミング-クロックバッファー、ドライバー, インターフェース-アナログスイッチ-特別な目的, ロジック-トランスレーター、レベルシフター, インターフェース-フィルター-アクティブ, 組み込み-マイクロコントローラー-アプリケーション固有, PMIC-ORコントローラ、理想ダイオード and インターフェース-エンコーダー、デコーダー、コンバーターを含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
- 競争上の優位性:
- We specialize in Texas Instruments 8V182512IDGGREP electronic components. 8V182512IDGGREP can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for 8V182512IDGGREP, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
8V182512IDGGREP 製品の属性
品番 :
8V182512IDGGREP
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
シリーズ :
-
部品ステータス :
Active
論理タイプ :
ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
供給電圧 :
2.7V ~ 3.6V
ビット数 :
18
動作温度 :
-40°C ~ 85°C
取付タイプ :
Surface Mount
パッケージ/ケース :
64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ :
64-TSSOP
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