[6692個在庫]
- 品番:
- SN74ABT8543DLR
- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
- RoHS:
- 支払方法:
-
- 発送方法:
- 家族のカテゴリー:
- KEY Components Co.、LTDは、PMIC-ゲートドライバー, ロジック-FIFOメモリ, リニア-コンパレータ, PMIC-配電スイッチ、負荷ドライバー, 組み込み-システムオンチップ（SoC）, ロジック-フリップフロップ, PMIC-電圧リファレンス and インターフェース-ドライバー、レシーバー、トランシーバーを含む製品カテゴリを提供する電子部品ディストリビュータです。
- 競争上の優位性:
- We specialize in Texas Instruments SN74ABT8543DLR electronic components. SN74ABT8543DLR can be shipped within 24 hours after order. If you have any demands for SN74ABT8543DLR, Please submit a Request for Quotation here or send us an email: rfq@key-components.com
SN74ABT8543DLR 製品の属性
品番 :
SN74ABT8543DLR
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP
シリーズ :
74ABT
部品ステータス :
Obsolete
論理タイプ :
Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
供給電圧 :
4.5V ~ 5.5V
ビット数 :
8
動作温度 :
-40°C ~ 85°C
取付タイプ :
Surface Mount
パッケージ/ケース :
28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ :
28-SSOP
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