SN74BCT8374ADW 価格設定（USD） [9698個在庫]
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- 品番:
- SN74BCT8374ADW
- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
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SN74BCT8374ADW 製品の属性
品番 :
SN74BCT8374ADW
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
シリーズ :
74BCT
部品ステータス :
Active
論理タイプ :
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
供給電圧 :
4.5V ~ 5.5V
ビット数 :
8
動作温度 :
0°C ~ 70°C
取付タイプ :
Surface Mount
パッケージ/ケース :
24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
サプライヤーデバイスパッケージ :
24-SOIC
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