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- 品番:
- 8V18646AIPMREP
- メーカー:
- Texas Instruments
- 詳細な説明:
- IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP.
- メーカーの標準リードタイム:
- 在庫あり
- 賞味期限:
- 一年
- チップから:
- 香港
- RoHS:
- 支払方法:
-
- 発送方法:
- 家族のカテゴリー:
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- 競争上の優位性:
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8V18646AIPMREP 製品の属性
品番 :
8V18646AIPMREP
メーカー :
Texas Instruments
説明 :
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
シリーズ :
SCOPE™, Widebus™
部品ステータス :
Obsolete
用途 :
Circuit Board Testing
インタフェース :
4-Wire Test Access Port (TAP)
電圧-供給 :
2.7V ~ 3.6V
パッケージ/ケース :
64-LQFP
サプライヤーデバイスパッケージ :
64-LQFP (10x10)
取付タイプ :
Surface Mount
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